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清华大学学报(自然科学版)  2015, Vol. 55 Issue (8): 889-894    
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基于可控功耗的扫描分段测试结构
江舟1, 向东1, 神克乐2
1. 清华大学 软件学院, 北京 100084;
2. 清华大学 计算机科学与技术系, 北京 100084
Scan segmentation test architecture for power controllability
JIANG Zhou1, XIANG Dong1, SHEN Kele2
1. School of Software, Tsinghua University, Beijing 100084, China;
2. Department of Computer Science and Technology, Tsinghua University, Beijing 100084, China
全文: PDF(1260 KB)  
输出: BibTeX | EndNote (RIS)      
摘要 随着芯片尺寸进入微纳米级时代, 集成电路测试过程中产生的功耗也越来越大, 已经成为了芯片生产和测试的瓶颈。已有的研究主要是降低移位功耗或者捕获功耗, 但是很少有方法能够同时降低这2个阶段的功耗, 而且目前还没有针对捕获功耗可控性的研究。该文提出了一种基于可控功耗的扫描分段结构, 该结构能够控制移位阶段和捕获阶段的功耗, 并且只需增加很小的面积开销。同时还设计了一种高效的电路结构分析算法来检测触发器之间的依赖关系, 以及一种能够直接降低同一时刻触发器跳变的扫描分段策略, 这